DSpace at My University FC - Faculdade de Ciências FC - Química Industrial
Use este identificador para citar ou linkar para este item: http://monografias.uem.mz/handle/123456789/1146
Registro completo de metadados
Campo DCValorIdioma
dc.creatorFotine, Paula Alexandra-
dc.date.accessioned2021-06-29T11:50:32Z-
dc.date.issued2000-11-21-
dc.identifier.urihttp://monografias.uem.mz/handle/123456789/1146-
dc.description.abstractThe main objective of this work is to find the minimum amounts of excess aluminum trifluoride present in the electrolytic solution, which can be determined by the X-ray diffraction method under production conditions. This is done by comparing the results obtained by X-ray diffraction with those obtained by a reference volumetric method. The study was developed with a view to its application in the control of electrolytic cells, that is, in maximizing their efficiency for the production of aluminum. One way to improve current efficiency is to lower the cell temperature. This is achieved by adding additives such as aluminum trifluoride. The reason for using additives is the loss of less energy to the outside and less resistance of the electrolytic solution to the passage of current, hence the concentrations of all additives must be monitored at regular intervals. For this purpose, the X-ray diffraction method is used, compared with a reference volumetric method. The volumetric method is used as a reference method since during the initial start-up phase of the electrolytic cells the electrolytic solution contains low levels of aluminum trifluoride which lead to the coexistence of several crystalline phases. Low aluminum trifluoride contents lead to the appearance of three crystalline phases simultaneously namely fluorite, cryolite and calcium cryolite. The sample containing these three phases can be analyzed by X-ray diffraction, but there is an overlap between the various peaks of these substances, which leads to a result with low precision. Considering the results obtained, the detection limit of the X-ray diffraction method, for the determination of aluminum trifluoride, was estimated for a statistical safety of 2o (95%) as corresponding to 1.50% of chiolite in the electrolytic solution. This means that only from concentrations above 1.50% of kiolite can the X-ray diffraction method be safely applied in the determination of aluminum trifluoride in the electrolytic solution, under the conditions of production. (The main objective of this work is to find the minimum amounts of excess aluminum trifluoride present in the electrolytic solution, which can be determined by the X-ray diffraction method under production conditions. This is done by comparing the results obtained by X-ray diffraction with those obtained by a reference volumetric method. The study was developed with a view to its application in the control of electrolytic cells, that is, in maximizing their efficiency for the production of aluminum. One way to improve current efficiency is to lower the cell temperature. This is achieved by adding additives such as aluminum trifluoride. The reason for using additives is the loss of less energy to the outside and less resistance of the electrolytic solution to the passage of current, hence the concentrations of all additives must be monitored at regular intervals. For this purpose, the X-ray diffraction method is used, compared with a reference volumetric method. The volumetric method is used as a reference method since during the initial start-up phase of the electrolytic cells the electrolytic solution contains low levels of aluminum trifluoride which lead to the coexistence of several crystalline phases. Low aluminum trifluoride contents lead to the appearance of three crystalline phases simultaneously namely fluorite, cryolite and calcium cryolite. The sample containing these three phases can be analyzed by X-ray diffraction, but there is an overlap between the various peaks of these substances, which leads to a result with low precision. Considering the results obtained, the detection limit of the X-ray diffraction method, for the determination of aluminum trifluoride, was estimated for a statistical safety of 2o (95%) as corresponding to 1.50% of chiolite in the electrolytic solution. This means that only from concentrations above 1.50% of kiolite can the X-ray diffraction method be safely applied in the determination of aluminum trifluoride in the electrolytic solution, under the conditions of production. (TRADUÇÃO NOSSA)pt_BR
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Eduardo Mondlanept_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectProdução de alumíniopt_BR
dc.subjectTrifluoreto de alumíniopt_BR
dc.subjectMétodo de difracção de raios-Xpt_BR
dc.subjectAmostras de uma solução electrolíticapt_BR
dc.titleAvaliação do limite de detecção do método de difracção de raios-x na determinação do trifluoreto de alumínio em amostras de uma solução electrolíticapt_BR
dc.typeTrabalho de Conclusão de Cursopt_BR
dc.contributor.advisor1Maia, Rui Carlos da-
dc.contributor.advisor-co1Massango, Aida Vasco-
dc.description.resumoO trabalho tem como objectivo principal encontrar os teores mínimos de excesso de trifluoreto de alumínio, presentes na solução electrolítica, determináveis pelo método de difracção de raios-X na condições da produção. Tal é feito confrontando-se os resultados obtidos por difracção de raios-X com os obtidos por um método volumétrico de referência. O estudo foi desenvolvido tendo em vista a sua aplicação no controle das células electrolíticas ou seja na maximização da eficiência destas para a produção de alumínio. Uma das formas de melhorar a eficiência da corrente é baixar a temperatura da célula. Isto consegue-se através da adição de aditivos como o trifluoreto de alumínio. A razão para o uso dos aditivos é a perda de menor energia para o exterior e uma menor resistência da solução electrolítica à passagem da corrente, daí que as concentrações de todos os aditivos devem ser monitoradas em intervalos regulares. Para o efeito emprega-se o método de difracção de raios-X confrontado com um método volumétrico de referência. O método volumétrico é usado como um método de referência dado que durante a fase inicial do arranque das células electrolíticas a solução electrolítica contém teores baixos de trifluoreto de alumínio que conduzem à coexistência de várias fases cristalinas. Baixos teores de trifluoreto de alumínio conduzem ao aparecimento de três fases cristalinas em simultâneo nomeadamente a fluorite, criolite e criolite cálcica. A amostra contendo estas três fases pode ser analisada por difracção de raios-X só que existe uma sobreposição entre os vários picos destas substâncias o que conduz a um resultado com baixa precisão. Considerando os resultados obtidos, o limite de detecção do método de difracção de raios-X, para a determinação do trifluoreto de alumínio, foi estimado para uma segurança estatística de 2o (95%) como sendo correspondente a 1.50% de quiolite na solução electrolítica. Tal significa que só a partir de concentrações superiores a 1.50% de quiolite se pode aplicar com segurança o método de difracção de raios-X na determinação do trifluoreto de alumínio na solução electrolítica, nas condições da produção.pt_BR
dc.publisher.countryMoçambiquept_BR
dc.publisher.departmentFaculdade de Ciênciaspt_BR
dc.publisher.initialsUEMpt_BR
dc.subject.cnpqCiências Exactas e da Terrapt_BR
dc.subject.cnpqQuímicapt_BR
dc.description.embargo2021-06-29-
Aparece nas coleções:FC - Química Industrial

Arquivos associados a este item:
Arquivo Descrição TamanhoFormato 
2000 - Fotine, Paula Alexandra.pdf1.67 MBAdobe PDFVisualizar/Abrir


Os itens no repositório estão protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, salvo quando é indicado o contrário.